EN : Darkfield and scanning probe microscopes
FR : Microscopes à fond noir et microscopes à sonde à balayage
NL : Donkerveld- en rastersondemicroscopen
ES : Microscopios de campo oscuro y de sonda de barrido
IT : Ultramicroscopi e microscopi a sonda di scansione
DE : Dunkelfeld- und Rastersondenmikroskope
PT : Microscópios de campo escuro e microscópios de varrimento
BG : Тъмнополеви микроскопи и микроскопи със сканиращи сонди
CS : Mikroskopy s tmavým polem a skenovací sondové mikroskopy
DA : Darkfield- og scanning probe-mikroskoper
EL : Μικροσκόπια σκοτεινού πεδίου και μικροσκόπια με κεφαλή σάρωσης
ET : Reljeefvalgustus- ja skaneerimissondiga mikroskoobid
FI : Pimeäkenttä- ja scanning probe -mikroskoopit
GA : Darkfield and scanning probe microscopes
HU : Sötétlátóteres és pásztázószondás mikroszkópok
LT : Tamsiafoniai mikroskopai ir mikroskopai su skenuojančiais zondais
LV : Tumšā lauka un skenējošās zondes mikroskopi
MT : Mikroskopji darkfield u b’sonda għall-iskenjar
PL : Mikroskopy Darkfielda i mikroskopy z sondą skanującą
RO : Microscoape cu fond negru şi microscoape cu sondă de scanare
SK : Mikroskopy s tmavým poľom a mikroskopy so skenovacou sondou
SV : Mörkfältsmikroskop och svepsondmikroskop