CPV code 38511100-1

EN : Scanning electron microscopes

FR : Microscopes électroniques à balayage

NL : Aftastingselektronenmicroscopen

ES : Microscopios electrónicos de barrido

IT : Microscopi elettronici a scansione

DE : Rasterelektronenmikroskope

PT : Microscópios electrónicos de varrimento

BG : Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч)

CS : Snímací elektronové mikroskopy

DA : Elektronrastermikroskoper

EL : Ηλεκτρονικά μικροσκόπια σάρωσης

ET : Skaneerivad elektronmikroskoobid

FI : Pyyhkäisyelektronimikroskoopit

GA : Scanning electron microscopes

HU : Pásztázó elektronmikroszkópok

LT : Nuskaitantys elektroniniai mikroskopai

LV : Skenējošie elektronmikroskopi

MT : Mikroskopju elettroniku ta’ l-iskenjar

PL : Skanujące mikroskopy elektronowe

RO : Microscoape electronice cu scanare

SK : Skenovacie elektrónové mikroskopy

SV : Svepelektronmikroskop

Leave a Reply