CPV code 38514200-3

EN : Scanning probe microscopes

FR : Microscopes à sonde à balayage

NL : Rastersondemicroscopen (SPM)

ES : Microscopios de sonda de barrido

IT : Microscopi a sonda di scansione

DE : Rastersondenmikroskope

PT : Microscópios de varrimento

BG : Микроскопи със сканиращи сонди

CS : Skenovací sondové mikroskopy

DA : Scanning probe-mikroskoper

EL : Μικροσκόπια με κεφαλή σάρωσης

ET : Skaneerimissondiga mikroskoobid

FI : Scanning probe -mikroskoopit

GA : Scanning probe microscopes

HU : Pásztázószondás mikroszkópok

LT : Mikroskopai su skenuojančiais zondais

LV : Skenējošās zondes mikroskopi

MT : Mikroskopji b’sonda għall-iskenjar

PL : Mikroskopy z sondą skanującą

RO : Microscoape cu sondă de scanare

SK : Mikroskopy so skenovacou sondou

SV : Svepsondmikroskop

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